透射电镜与扫描电镜
实验介绍
透射电子显微镜（transmission electron microscope，TSE）是利用透射电子成像，因而要求样品极薄厚度不能超100nm。其结构包括三大部分：电子学系统、真空系统和电子光学系统。
扫描电子显微镜 (scanning electron microscopy，SEM) 是利用聚焦的非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试样表面形貌的观察。其结构由真空系统，电子束系统以及成像系统组成。
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